Académico es nombrado editor asociado de prestigiosa revista internacional
El profesor del Departamento de Ingeniería Eléctrica, Daniel Olivares, fue nombrado por la revista IEEE-Transactions on Smart Grid como editor asociado, medio que publica resultados investigaciones sobre la red inteligente que se relaciona, surge o influye en la generación, transmisión, distribución y entrega de energía.
La revista del Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Transactions on Smart Grid (TSG), nombró al académico del Departamento de Ingeniería Eléctrica, Daniel Olivares, como nuevo editor asociado de la prestigiosa revista.
El IEEE-TSG es una revista interdisciplinaria cuyo objetivo es difundir los resultados de la investigación sobre la red inteligente que se relaciona, surge o influye deliberadamente en la generación, transmisión, distribución y entrega de energía.
La revista publica una edición cada dos meses la cual reúne investigaciones originales sobre teorías y desarrollo sobre principios de tecnologías y sistemas de redes inteligentes.
“Es un gran honor y reconocimiento haber sido nombrado como editor asociado de la revista. Esto refleja el trabajo de años en investigación que hemos realizado sobre redes inteligentes tanto con colaboradores internacionales, como con los académicos de nuestro Departamento Matías Negrete y Álvaro Lorca del laboratorio de Optimización, Control y Mercados de Energía del Departamento Ingeniería Eléctrica UC”, señaló el profesor Daniel Olivares.
El proceso de validación de las publicaciones internacionales es conocida en la comunidad científica. La evaluación por parte de otros expertos en la materia asegura que el trabajo científico sea validado de manera imparcial y adecuada, ya que las revistas de primer nivel se destacan por su proceso complejo y exigente.
Tal es el caso de IEEE TSG, la revista científica de mayor rango en la Sociedad de Sistemas de Energía (PES) del IEEE, con un factor de impacto de 10,6. El prestigio de dicha revista se confirma además con su 6ª posición en el ranking de revistas de IEEE Electrical Engineering.